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產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2025-06-04訪 問 量：1211詳細(xì)介紹
德國(guó)EPK-MiniTest 1100涂鍍層測(cè)厚儀
德國(guó)EPK（Elektrophysik）公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號(hào)均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
| 型號(hào) |
1100 |
2100 |
3100 |
4100 |
| MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 | ||||
| 應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)） |
1 |
1 |
10 |
99 |
| 每個(gè)應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，并可設(shè)寬容度極限值） |
- |
1 |
10 |
99 |
| 可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) |
- |
1 |
500 |
500 |
| 數(shù)據(jù)總量 |
1 |
10000 |
10000 |
10000 |
| MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 | ||||
| 讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar |
- |
√ |
√ |
√ |
| 讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
| 組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar |
- |
- |
√ |
√ |
| 組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
| 存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) |
- |
- |
- |
√ |
| 分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 |
- |
- |
√ |
√ |
| 顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 |
- |
√ |
√ |
√ |
| 其他功能 | ||||
| 透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)（CTC） |
- |
√ |
√ |
√ |
| 在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) |
√ |
√ |
√ |
√ |
| 利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn) |
√ |
√ |
√ |
√ |
| 補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)（Offset） |
- |
- |
√ |
√ |
| 外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能 |
- |
√ |
√ |
√ |
| 保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置 |
√ |
√ |
√ |
√ |
| 更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值 |
√ |
√ |
√ |
√ |
| 設(shè)置極限值 |
- |
- |
√ |
√ |
| 公英制轉(zhuǎn)換 |
√ |
√ |
√ |
√ |
| 連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過模擬柱識(shí)別zui大zui小值 |
- |
- |
√ |
√ |
| 連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) |
- |
- |
√ |
√ |
| 浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送 |
√ |
√ |
√ |
√ |
| 組內(nèi)單值延遲顯示 |
- |
√ |
√ |
√ |
| 連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值 |
√ |
√ |
√ |
√ |
MiniTest2100涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)（ 探頭圖示）
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
探頭 |
量程 |
低端 |
誤差 |
zui小曲率 |
zui小測(cè)量 |
zui小基 |
探頭尺寸 | |
磁
|
F05 |
0-500μm |
0.1μm |
±（1%±0.7μm） |
1/5mm |
3mm |
0.2mm |
φ15x62mm |
F1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±（1%±1μm） |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm | |
F1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±（1%±1μm） |
平面/6mm |
5mm |
0.5mm |
φ8x8x170mm | |
F3 |
0-3000μm |
0.2μm |
±（1%±1μm） |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm | |
F10 |
0-10mm |
5μm |
±（1%±10μm） |
5/16mm |
20mm |
1mm |
φ25x46mm | |
F20 |
0-20mm |
10μm |
±（1%±10μm） |
10/30mm |
40mm |
2mm |
φ40x66mm | |
F50 |
0-50mm |
10μm |
±（3%±50μm） |
50/200mm |
300mm |
2mm |
φ45x70mm | |
兩
|
FN1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±（1%±1μm） |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm |
φ15x62mm |
FN1.6P |
0-1600μm |
0.1μm |
±（1%±1μm） |
平面 |
30mm |
F0.5mm |
φ21x89mm | |
FN2 |
0-2000μm |
0.2μm |
±（1%±1μm） |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm |
φ15x62mm | |
電
|
N02 |
0-200μm |
0.1μm |
±（1%±0.5μm） |
1/10mm |
2mm |
50μm |
φ16x70mm |
N.08Cr |
0-80μm |
0.1μm |
±（1%±1μm） |
2.5mm |
2mm |
100μm |
φ15x62mm | |
N1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±（1%±1μm） |
1.5/10mm |
2mm |
50μm |
φ15x62mm | |
N1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±（1%±1μm） |
平面/10mm |
5mm |
50μm |
φ13x13x170mm | |
N10 |
0-10mm |
10μm |
±（1%±25μm） |
25/100mm |
50mm |
50μm |
φ60x50mm | |
N20 |
0-20mm |
10μm |
±（1%±50μm） |
25/100mm |
70mm |
50μm |
φ65x75mm | |
N100 |
0-100mm |
100μm |
±（1%±0.3mm） |
100mm/平面 |
200mm |
50μm |
φ126x155mm | |
CN02 |
10-200μm |
0.2μm |
±（1%±1μm） |
平面 |
7mm |
無限制 |
φ17x80mm | |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
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